Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: https://dspace.bsmu.edu.ua/handle/123456789/6632
Повний запис метаданих
Поле DCЗначенняМова
dc.contributor.authorUshenko, Yu.O.-
dc.contributor.authorMisevich, I.Z.-
dc.contributor.authorAngelsky, A.P.-
dc.contributor.authorBachinsky, V.T.-
dc.contributor.authorTelen’ga, O.Yu.-
dc.contributor.authorOlar, O.I.-
dc.date.accessioned2013-05-28T13:44:35Z-
dc.date.available2013-05-28T13:44:35Z-
dc.date.issued2010-
dc.identifier.otherPACS 87.64.-t-
dc.identifier.urihttps://dspace.bsmu.edu.ua/handle/123456789/6632-
dc.description.abstractAdduced in this work are the results of investigation aimed at analysis of coordinate distributions for azimuths and ellipticity of polarization (polarization maps) in laser images of three types of phase-inhomogeneous layers (PhIL), namely: rough, ground and bulk scattering layers. To characterize polarization maps for all the types of PhIL, the authors have offered to use three groups of parameters: statistical moments of the first to fourth orders, autocorrelation functions, logarithmic dependences for power spectra related to distributions of azimuths and ellipticity of polarization inherent to PhIL laser images. Ascertained are the criteria for diagnostics and classification of PhIL optical properties.ru_RU
dc.language.isoenru_RU
dc.publisherV. Lashkaryov Institute of Semiconductor Physics, National Academy of Sciences of Ukraine, Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics, 2010. V. 13, N 3. P. 248-258ru_RU
dc.subjectpolarizationru_RU
dc.subjectrough surfaceru_RU
dc.subjectphase-inhomogeneous layerru_RU
dc.subjectstatistical momentru_RU
dc.subjectautocorrelationru_RU
dc.titlePolarization-singular structure in laser images of phase-inhomogeneous layers to diagnose and classify their optical propertiesru_RU
dc.typeArticleru_RU
Розташовується у зібраннях:Статті. Кафедра біологічної фізики та медичної інформатики

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
35.pdf696.61 kBAdobe PDFЕскіз
Переглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.